产品详情
简单介绍：
YW-B330i插损回损测试仪广泛应用于光纤光缆、光无源器件和光纤通信系统的插损和回损测试。
详情介绍：
YW-B330i插损回损测试仪
产品概述 YW-B330i插损/回损测试仪广泛应用于光纤光缆、光无源器件和光纤通信系统的插损和回损测试。 |
独特的插损告警提示 大屏幕彩色液晶显示 精度高、量程宽 |
性能指标
光回波损耗测试 | 工作波长 | 1310/1550nm |
测试范围 | 0 ~ 75 dB | |
校准波长 | 1310/1550nm | |
测试精度 | 0.25dB | |
输出稳定性 | 0.05dB/小时 ( @ 25℃) | |
接口类型 | FC/APC | |
光插入损耗测试 | 校准波长 | 1310/1550/850nm |
测试范围 | +3 ~ -80 dBm | |
测试精度 | 0.25dB | |
显示分辨率 | 对数：0.001dB；线性：0.001nw/μW/mW | |
测试模式 | 线形和非线性 | |
接口类型 | 活动接口， FC/SC/ST/通用φ2.5mm/通用φ1.25mm等适配器 | |
总指标 | 电源 | AC 100-240V |
工作温度 | -5℃～+55℃ | |
外观尺寸 | 260×265×140mm | |
重量 | 3kg | |
